カセットからカセットにウェハを移し替える装置です。 異なる2つのサイズに対応できます。レシピ登録により複数のパターンの移載が可能です。
移載機にソーティング機能を追加した装置です。 カメラでウェハIDを読み取り、その内容により複数のカセットへの振り分け移載やスロット入替えが可能です。
カセットに収納されたウェハを顕微鏡にロード/アンロードする装置です。 オペレーターの指示により、カセットからウェハを顕微鏡にロードし、ステ ージを指定位置に移動させることでアンロードします。新規導入の他に、既存の顕微鏡に後付することもできます。
(種類によってはできないことがあります)
ウェハ測定装置にウェハをロード/アンロードする装置です。 他社製の測長機や膜厚測定機などと連携します。 新規導入の他に、既存の装置へ後付するもともできます。
ウェハをレビューユニット(顕微鏡+電動ステージ)にロード/アンロードし、あらかじめ登録されたウェハ座標をレビューする装置です。 カセットからウェハをレビューユニットにロードし、接眼レンズによるレビュー(カメラ付きの場合はモニター画面によるレビュー)が可能です。レシピ登録により、電動ステージが登録された座標に自動で移動します。ジョイスティックによるマニュアル移動も可能です。また、全数検査の他に指定スロット検査なども可能です。合否判定結果を画面に表示できるほか、CSVで出力するができます。
マクロ検査(目視検査)ユニットとミクロ検査(顕微鏡検査)ユニットの2種類の検査ユニットで構成される装置です。 上のレビュー装置にマクロ検査ユニットが追加された装置になります。マクロ検査では、目視によるウェハの表裏面の観察ができます。あらかじめ登録した角度の他に、ジョイスティックによるマニュアル操作も可能です。また、ウェハを無限回転させることで、あらゆる角度からの目視検査が可能です。
特殊な光学装置と画像処理により、自動的に欠陥を検出する装置です。 ウェハ表裏面の異物、キズ、クラックや外周のチッピングを自動的に検出します。その他に、ウェハ表面検査では、パターン異常、インクやレーザーによるマーキング異常、裏面検査では、研磨時に発生する十字クラックやメッキはげなどを検出します。
他の検査システムの欠陥データと連携し、指定の座標の画像を自動で撮像し、保存や他システムへ送信する装置です。 他の検査システムから抽出された欠陥データを受信し、指定座標のウェハ外観を、高倍率・高解像度にて自動撮像します。画像は受信した欠陥データと紐づけし、上位システムへ返信します。